材料学子 发表于 2013-3-6 11:47:30

请教背散射与二次电子问题

本人现在做mg-cu合金 mg原子含量低于33.33% ，试样是通过热压烧结制成的，对试样的金相腐蚀液试了好多种，都不能完美的把金相腐蚀出来，现在不想在腐蚀液上浪费时间了，想通过做扫描看能不能实现对组织分析，不知道背散射好还是二次电子好些，对试样只能做机械抛光处理，表面不做腐蚀。求高手指点。

鹤轩 发表于 2013-3-6 12:45:35

我也是来学习的

20091535zc 发表于 2013-3-6 13:23:01

二次电子较浅适合看表面形貌，背散射电子比二次电子更深同时还可做成分分析。总之扫描一般只能看形貌吧，看组织还是用光镜好

cc1122 发表于 2013-3-7 08:11:10

如果没有腐蚀，试样表面比较平的话，在电镜下用二次电子应该是看不出来晶界的，
如果没有原子在晶界附近的偏聚，用背散是看不出晶界的

1021312587 发表于 2013-4-4 17:28:55

机械抛光表面还是有划痕的，用二次电子也只能看到表面形貌，背散射应该会好点吧，毕竟Mg-Cu合金的晶界处有成分变化大，说实话，还是金相最好。

发风气意 发表于 2015-1-15 21:27:26

背散射主要用来看表面形貌的

luke 发表于 2015-8-7 21:50:05

很好，看大家的回复学习不少。

qingci1990 发表于 2015-9-17 15:16:19

二次电子成像衬度主要是由材料表面形貌决定的，而背散射电子成像是质厚衬度，这个与元素的原子序数有关，所以理论上是用背散是最好的。但是SEM下，对试样表面的光洁度要求是比较高的，所以在样品的磨抛过程中最好不要出现划痕。如果实在不行可以看看是否用电解抛光的办法来进行样品的制备。同时，如果单纯是看金相的话，光学显微镜是最好的，因为SEM下可能最明显的是元素的分布。

18730279169 发表于 2016-1-25 10:53:55

还是换换腐蚀剂吧
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