择优取向对XRD谱图到底有什么影响？
择优取向对XRD谱图到底有什么影响？ 怎样从谱图上看出有择优取向呢？首先说明，不会使衍射峰变宽。
在常规的衍射几何中，采用逐点接收数据的方式。也就是当入射光与样品成THETA角时，我们的探测器正好处于相对等的反射位置上。这样一来，我们的探测器接收的光强度仅仅是来自于“平行于样品表面的晶面”的衍射。假定样品槽中有1亿个晶粒，其中有500个晶粒的（001）面平行于样品表面，那么，我们所测到的（001）面的衍射峰强度就来自于这500个晶粒的衍射。另501个晶粒的（111）面平行于样品表面，那么，（111）面衍射强度就来自于这501个晶粒的衍射。……。这就是我们必须理解的一点：我们看到的一个衍射峰强度并非来自于这1亿个晶粒的衍射。如果有800个晶粒的（001）面都平行于样品表面，势必这个峰就会增强，因为（001）面平行于样品表面的数量增多了，其它晶面平行于样品表面的机率就减小了。其它峰必然就减小了。这时，我们就说这个样品有择优取向，这个优就是（001）面。所以，我们从衍射峰强度与PDF卡片上的强度不匹配，就可以说明样品有择优取向。进一步来说，如果一个样品中的晶粒大多数朝着一个方向（或者一个平面），就象我们织的衣物有纹理式样的结构，就称为“织构”。
平时，我们在制样时为了要克服这种择优取向，使测出来的图的衍射峰强度与PDF卡片上的强度匹配，就要注意不要人为地制造这种择优取向。 路过帮顶......
RE: 择优取向对XRD谱图到底有什么影响？
会使峰变宽 本帖最后由 Tou 于 2015-1-11 12:22 编辑择优会使某些晶面测不到，，某些衍射峰可能变小甚至消失。制作样品时，粒度要达到要求，避免样品择优。。。 择优取向会使测量的曲线强度比例偏离标准卡的值
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