RTO 金属包埋切片微米- 纳米表征法
现代先进材料与微米--纳米尺度密切相关，材料的性能与其微观结构有着极其重要的关系。透射电镜和高分辨电镜是研究材料微观结构最重要的仪器，但是用透射电镜和高分辨电镜研究材料微观结构时，首先必须从试样中切取电镜电子束可以穿透的纳米厚度的薄膜。从微观试样中切取纳米厚度的薄膜是材料研究领域的世界难题。应用“RTO 金属包埋切片微米- 纳米表征法”可以从微米-纳米颗粒试样、纤维试样、多层膜或含有界面的试样中高质量地切取纳米厚度薄膜，获得薄膜过程中不接触高温，不接触酸碱，，必要时也可以不接触水或水溶液，因此不损伤试样的原组织。切取的薄膜完整性好，薄区大，制样成功率高。对发展先进材料有着重要的作用。
微米纳米颗粒表征研究实例
（TEM） （HREM） （SEM）
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透射电镜 高分辨电镜 扫描电镜
组装在沸石分子筛中的半导体CdSe纳米团簇（TEM）1
组装在沸石分子筛中的半导体CdSe纳米团簇（TEM）2
铸铁中的开花石墨（SEM）
有包覆层的铝镁纳米颗粒（TEM）
钽粉微米颗粒（SEM）
实心纳米碳纤维横切面 （HREM）
纳米碳管横切面 （HREM）
军用战机吸波涂层中的金属颗粒（TEM）
分离出的钢中夹杂物（SEM）
低温超导丝中的超导相
低温超导丝横切面 （SEM）
催化剂微米颗粒（SEM）
超导丝横切面局部放大（SEM）
被包覆的Al2O3微米颗粒（TEM）
SiO2微米颗粒（TEM）
铸铁中的球状石墨（TEM）
图片外面找不到的，关注一下
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