原子力显微镜(AFM)简介
今天同样是为大家简要介绍一种表面工程领域广泛应用的设备,不足之处请大家@我。仪器名称:原子力显微镜(atomic force microscope);
简称:AFM;
原理:AFM是利用半径接近原子尺寸的针尖,轻轻压在待测材料表面,使针尖在待测表面上作光栅扫描,针尖随着表面的凹凸起伏运动,用光学或电学方法测量起伏位移随位置的变化,于是得到表面的三维轮廓图。其横向分辨率可达0.15nm,纵向分辨率达0.05nm。
应用:原子力显微镜可以测量材料表面形貌,表面原子间的力,此外,还可以测量表面的弹性、塑性、硬度、黏着力、摩擦力等性能。
仪器比较:同样是测量材料表面形貌,原子力显微镜与扫描隧道显微镜(STM)相比,其优点是可以测量绝缘体的表面形貌,但是分辨率略低于STM。而与普通的指针轮廓仪(Stylus Profilometer)以及白光干涉仪相比,其显著优点是,分辨率尤其是横向分辨率远远优于前述两种设备,但相应的,其视野面积较小,当材料表面磨损较严重,或是腐蚀区较大时,其不能完整表达磨损区或腐蚀区形貌。
希望对你有所帮助。
AFM atomic force microscope
半径近原子针尖,压表,光栅扫描,光学/电学,起伏随位置变化,三维轮廓图,横.15nm,纵.05nm.
原力、弹性、塑性、硬度、黏着、摩擦力。
较STM扫描隧道显微,优测绝缘体表貌,分辨率略低。
较普通指针轮廓仪Stylus Profilometer,白光干涉仪,优分辨率、横,视野面小,磨损重、腐蚀大时,不完整表达形貌。
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