semtem 发表于 2011-12-6 18:38:58

X光电子能谱分析的应用

XPS主要应用是测定电子的结合能来实现对表面元素的定性分析。此外,XPS谱图中峰的高低表示这种能量的电子数目的多少,也即相应元素含量的多少。由此,可以进行元素的半定量分析。由于各元素的光电子激发效率差别很大,因此,这种定量结果会有很大误差。

      同时特别强调的是,XPS提供的半定量结果是表面3-5nm的成份,而不是样品整体的成份。在进行表面分析的同时,如果配合Ar离子枪的剥离,XPS谱仪还可以进行深度分析。依靠离子束剥离进行深度分析,X射线的束斑面积要小于离子束的束斑面积。此时最好使用小束斑X光源。

  元素所处化学环境不同,其结合能也会存在微小差别,依靠这种微小差别(化学位移),可以确定元素所处的状态。由于化学位移值很小,而且标准数据较少,给化学形态的分析带来很大困难。此时需要用标准样品进行对比测试。

学海小生 发表于 2012-4-4 12:28:58

半定量 3-5nm受教了 谢谢

guokeying1989 发表于 2012-4-18 10:18:39

O(∩_∩)O谢谢,学到不少东西

fcw 发表于 2013-5-17 21:21:49

简单到位的讲解
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