XPS数据处理（结合Origin制图） 1.XPS（X射线光电子能谱）与XRD相比，可以更直观的了解元素的化合价分布； 2.安装XPSPeak分峰软件（软件只有几兆，但是灰常实用）：双击setup.exe； 3.将XPS数据复制到Origin（一列为结合能，一列为相对强度）； 4.新建文本文档，将Origin两列数据复制到新建的文本文档，保存并关闭，将文本文档的后缀.txt改为.data（敲重要！）； 5.打开XPSPeak，点Data-Import（ASCII），选择你的data； 6.设置Background（基线校正）-一般选择Shirley类型-Accept； 7.在NIST官网查找结合能数据（网址：https://srdata.nist.gov/xps/main_search_menu.aspx）；这一步hin关键，运气好的话，对应元素在NIST上会非常详细；如果数据不全，则需要根据经验自行判断；XPS出峰也会因为化合物形态、实验条件等而出现偏移； 8.根据结合能数据与实际的峰形，选择Add Peak，设置好峰位； 9.点Optimise Region自动优化； 10.调整结束，输出图像数据：Data-Export（Spectrum），文件会以.data结尾，用记事本即可打开； 11.将数据粘贴到Origin，根据需要作图； 12.还可以使用Origin的Analysis-Mathematics-Integrate（Origin的积分器）求取峰的积分面积。 本文转载自小木虫作者welsion001 XPS分峰软件XPSpeak41.zip (3.15 MB, 下载次数: 580) 2017-7-4 21:30 上传 点击文件名下载附件 XPS原理及分析.ppt (5.28 MB, 下载次数: 536) 2017-7-4 21:30 上传 点击文件名下载附件

确实不错，感谢分享。

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