仪器论坛上看到的用XRD如何更准确得到晶胞参数，大家参考参考。XRD对于搞材料的人来说，还是蛮常见的。

1. 最低含量的捡出标准是和物性、扫描程序等有关的。

有的物质结晶性能不好，类似玻璃态，可能100％都检测不出来；如果物质的结晶性能好可能0.1％都能检测到。一个很好的例子就是C，非晶体化的C基本看不到，而石墨化的C1％以下是不成问题的。

物质对于x射线的吸收和反射的能力是不同的。吸收大的物质检出限偏高一些，而反射强的物质检出限就低一些。甚至有的物质对于x射线根本不反射，那就没法看到了。

另外扫描的时间也很重要。比如，某1％含量的物质在10min内扫描可能看不到，而在60min扫描就看到了。


2.关于测量的精度。

首先在于衍射仪的测角精度，这个是基础。在这个基础上才能谈改进的措施。

具体的方法有以下几种

（1）采用小的步长，比如说0.01/step。

（2）采用较好的内标样品。

（3）采用小狭缝系统，包括发散狭缝和接受狭缝。

（4）加大时间常数，从而提高峰背比，也很有效。

（5）有条件的可以增加一个单晶，滤掉ka2。

（6）数据的后期处理也很重要，如使用Rietveld法可以大幅提高结果的可靠性。

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