请教背散射与二次电子问题

材料学子

本人现在做mg-cu合金 mg原子含量低于33.33% ，试样是通过热压烧结制成的，对试样的金相腐蚀液试了好多种，都不能完美的把金相腐蚀出来，现在不想在腐蚀液上浪费时间了，想通过做扫描看能不能实现对组织分析，不知道背散射好还是二次电子好些，对试样只能做机械抛光处理，表面不做腐蚀。求高手指点。

18730279169 · 发表于 2016-1-25 10:53:55

还是换换腐蚀剂吧

qingci1990 · 发表于 2015-9-17 15:16:19

二次电子成像衬度主要是由材料表面形貌决定的，而背散射电子成像是质厚衬度，这个与元素的原子序数有关，所以理论上是用背散是最好的。但是SEM下，对试样表面的光洁度要求是比较高的，所以在样品的磨抛过程中最好不要出现划痕。如果实在不行可以看看是否用电解抛光的办法来进行样品的制备。同时，如果单纯是看金相的话，光学显微镜是最好的，因为SEM下可能最明显的是元素的分布。