今天同样是为大家简要介绍一种表面工程领域广泛应用的设备，不足之处请大家@我。

仪器名称：原子力显微镜（atomic force microscope）；
简称：AFM；
原理：AFM是利用半径接近原子尺寸的针尖，轻轻压在待测材料表面，使针尖在待测表面上作光栅扫描，针尖随着表面的凹凸起伏运动，用光学或电学方法测量起伏位移随位置的变化，于是得到表面的三维轮廓图。其横向分辨率可达0.15nm，纵向分辨率达0.05nm。
应用：原子力显微镜可以测量材料表面形貌，表面原子间的力，此外，还可以测量表面的弹性、塑性、硬度、黏着力、摩擦力等性能。
仪器比较：同样是测量材料表面形貌，原子力显微镜与扫描隧道显微镜（STM）相比，其优点是可以测量绝缘体的表面形貌，但是分辨率略低于STM。而与普通的指针轮廓仪（Stylus Profilometer）以及白光干涉仪相比，其显著优点是，分辨率尤其是横向分辨率远远优于前述两种设备，但相应的，其视野面积较小，当材料表面磨损较严重，或是腐蚀区较大时，其不能完整表达磨损区或腐蚀区形貌。

希望对你有所帮助。

AFM atomic force microscope

半径近原子针尖，压表，光栅扫描，光学/电学，起伏随位置变化，三维轮廓图，横.15nm，纵.05nm.
原力、弹性、塑性、硬度、黏着、摩擦力。
较STM扫描隧道显微，优测绝缘体表貌，分辨率略低。
较普通指针轮廓仪Stylus Profilometer,白光干涉仪，优分辨率、横，视野面小，磨损重、腐蚀大时，不完整表达形貌。