×
搜索
首页
资讯
材料人网新闻资讯频道
招聘
APP
材料人app下载
请
登录
后使用快捷导航
没有帐号?
立即注册
登录
注册
登录材料人论坛更精彩
下次自动登录
忘记密码
立即注册
登录
其他帐号登录:
只需一步,快速开始
用户组:游客
主题
帖子
人品
我的帖子
我的收藏
我的好友
我的勋章
设置
退出
退出
每日签到
材料人论坛
»
社区
›
材料检测分析讨论区
›
如何做实验
›
能谱杂峰来源分析
能谱杂峰来源分析
semtem
2011-12-10
3409
0
0
如何做实验
/
倒序浏览
© 著作权归作者本人所有
标签:
暂无标签
C、O大概是污染的有机物造成的。
Ca和S或许是你用了蒸馏水,有些水里面有CaSO4的。
Si据说可能是EDS探头晶体里造成的。
能谱只出现Cu,而且信号较弱,原因是样品未放在膜正面上(样品放反了),粉体样品放反对TEM观察没有影响,但对能谱测试结果有影响。
测出Si等不存在元素的问题,我曾做过碳膜(没有样品)的能谱测试,出现过少量Si、Cr、Os,你可以试试
通常对于X-ray发射有个最佳角度,所以能谱都有个最佳接收角,能谱与光轴的角度不变,所以通常通过增加a倾转角来实现,否则,特别是在负角度时信号很弱,而且有可能收集到样品上发出的二次电子或背散射电子打到电镜极靴或别的地方所发出的信号,如Fe、Cr等。对于微栅支持网上的样品,EDX结果有Cu和C是不稀奇的。
semtem
写了 197 篇文章,拥有财富 823,被 4 人关注
+ 关注
我要分享:
0
举报
收藏
分享到:
QQ好友和群
QQ空间
腾讯微博
腾讯朋友
分享到人人
材料人网--https://www.cailiaoren.com/
分享
淘帖
0
反对
0
回复
使用道具
评论
使用高级模式,上传图片!
您需要登录后才可以回帖
登录
|
注册
B
Color
Link
Quote
Code
Smilies
发表评论
回帖后跳转到最后一页
成为第一个吐槽的人
小黑屋
|
材料人论坛
|
京ICP备16046932号-2/京公网安备11010802029412
Powered by
Discuz!
X3.2
© 2001-2017
Comsenz Inc.
返回顶部