Ⅰ、考试总体要求

掌握X射线衍射分析（XRD）、电子显微分析（SEM、TEM）、红外光谱分析（IR）及热分析（DTA、DSC和TG）等分析方法的设备构造、工作原理、表征技术和应用。要求能够正确选用现代分析技术开展材料组成、结构与性能关系的科学研究能力。

Ⅱ、考试的内容及比例

1、X射线衍射分析（30-40％）

(1) 掌握X射线物理学基础、X射线衍射理论、X射线衍射方法；

(2) 理解定性、定量分析原理，PDF卡片的组成；

(3) 掌握物相的定性、定量分析方法；

(4) 了解XRD的典型应用。

2、扫描电镜（20-30％）

(1) 了解采用的分析信号，电镜结构、成像原理及用途；

(2) 掌握试样制备方法，图像的解释；

(3) 掌握电子探针的原理、结构、用途及性能比较，谱图分析方法。

3、透射电镜（15-25％）

(1) 了解电子与物质作用信号，透射电镜结构及成像原理；

(2) 掌握薄膜及复型试样制备方法；

(3) 掌握选区电子衍射及衍射花样的分析。

4、热分析技术（10-15％）

掌握差热分析、差示扫描量热分析和热重分析的基本原理和应用。

5、光谱分析（5-10％）

(1) 掌握光谱分析的原理、特征和应用；

(2) 了解有机化合物基团的特征吸收频率；

(3) 熟悉红外光谱的解析方法。

6、其它现代分析方法（0-5％）



参考书：

１．          材料科学研究与测试方法，朱和国，东南大学出版社，2008

２．          材料现代分析方法，左演声，北京工业大学出版社，2000
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Ⅰ、考试总体要求

掌握X射线衍射分析（XRD）、电子显微分析（SEM、TEM）、红外光谱分析（IR）及热分析（DTA、DSC和TG）等分析方法的设备构造、工作原理、表征技术和应用。要求能够正确选用现代分析技术开展材料组成、结构与性能关系的科学研究能力。

Ⅱ、考试的内容及比例

1、X射线衍射分析（30-40％）

(1) 掌握X射线物理学基础、X射线衍射理论、X射线衍射方法；

(2) 理解定性、定量分析原理，PDF卡片的组成；

(3) 掌握物相的定性、定量分析方法；

(4) 了解XRD的典型应用。

2、扫描电镜（20-30％）

(1) 了解采用的分析信号，电镜结构、成像原理及用途；

(2) 掌握试样制备方法，图像的解释；

(3) 掌握电子探针的原理、结构、用途及性能比较，谱图分析方法。

3、透射电镜（15-25％）

(1) 了解电子与物质作用信号，透射电镜结构及成像原理；

(2) 掌握薄膜及复型试样制备方法；

(3) 掌握选区电子衍射及衍射花样的分析。

4、热分析技术（10-15％）

掌握差热分析、差示扫描量热分析和热重分析的基本原理和应用。

5、光谱分析（5-10％）

(1) 掌握光谱分析的原理、特征和应用；

(2) 了解有机化合物基团的特征吸收频率；

(3) 熟悉红外光谱的解析方法。

6、其它现代分析方法（0-5％）



参考书：

１．          材料科学研究与测试方法，朱和国，东南大学出版社，2008

２．          材料现代分析方法，左演声，北京工业大学出版社，2000
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