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本帖最后由 Still_Waiting 于 2014-7-9 20:52 编辑
一:晶粒尺寸,通常用晶粒度来衡量。主要是用半高宽来测量,如果将衍射峰看作一个三角形,那么峰的面积等于峰高乘以一半高度处的宽度。这个宽度就称为半高宽(FWHM)。
在正空间中的一个很小的晶粒,在倒易空间中可看成是一个球,其衍射峰的峰宽很宽。而正空间中的足够大的晶粒,在倒易空间中是一个点。与此对应的衍射峰的峰宽很窄。因此,晶粒尺寸的变化,可以反映在衍射峰的峰宽上。据此可以测量出晶粒尺寸。
计算方法
被测样品中晶粒大小可采用Scherrer公式(谢乐公式)进行计算:
Dhkl即为晶粒尺寸,它的物理意义是:垂直于衍射方向上的晶块尺寸。其中dhkl是垂直于(hkl)晶面方向的晶面间距,而N则为该方向上包含的晶胞数。计算晶粒尺寸时,一般选取低角度的衍射线。如果晶粒尺寸较大,可用较高的角度的衍射线代替。
二:
XRD按照某个衍射峰通过谢乐公式计算的是该晶面指数所代表的方向的晶粒尺寸,如果你的晶体是非立方结构,各个峰算出的晶粒尺寸差别很大。
SEM观察到的是颗粒尺寸,跟上面XRD计算的结果是不同的概念,一个颗粒包含有很多个晶粒。
简单来说:
XRD是晶粒(微观)
SEM是颗粒(宏观)
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