将待测试样选择有代表性的部位拍摄成金相图片，放大倍数为100倍。当晶粒过大或过小时，倍数可适当缩小或放大，使视场内直径上不少于50个晶粒。在照片上画出几条足够长的线段(长度相等)，数出直线相截的晶粒总数，线段端部未被完全交截的晶粒应按一个晶粒计算，然后按下式计算弦的平均长度，差查相关表格确定晶粒度级别。
计算公式：d= nL/zM
d:弦的平均长度，mm
n：线段条数
L:每条线段长度，mm
z:相截晶粒总数
M:放大倍数

将待测试样选择有代表性的部位拍摄成金相图片，放大倍数为100倍。当晶粒过大或过小时，倍数可适当缩小或放大，使视场内直径上不少于50个晶粒。在照片上画出几条足够长的线段(长度相等)，数出直线相截的晶粒总数，线段端部未被完全交截的晶粒应按一个晶粒计算，然后按下式计算弦的平均长度，差查相关表格确定晶粒度级别。
计算公式：d= nL/zM
d:弦的平均长度，mm
n：线段条数
L:每条线段长度，mm
z:相截晶粒总数
M:放大倍数