在XPS谱图中可观察到几种类型的峰。一部分是基本的并总可观察到，另一些依赖于样品的物理和化学性质。

i. 光电子谱线(photoelectron lines)；

ii. 俄歇电子谱线(Auger lines)；

iii. X射线卫星峰(X-ray satellites)；

iv. X射线鬼线(X-ray “ghosts”)；

v. 震激谱线(shake-up lines)；

vi. 多重分裂(multiplet splitting)；

vii. 能量损失谱线(energy loss lines)；

viii. 价电子线和价带(valence lines and bands)。

XPS主要通过测定内壳层电子能级谱的化学位移可以推知原子结合状态和电子分布状态。XPS可提供的信息有样品的组分、化学态、表面吸附、表面态、表面价电子结构、原子和分子的化学结构、化学键合情况等。X射线光电子能谱进行元素鉴别的依据是各种元素的光电子峰结合能具有特征性和唯一性，即具有元素的“指纹”特征；进行化学态识别的主要依据是化学位移和各种终态效应以及价带谱特征等。

来，关注个有意思的公号，新能源前线（energysci）!

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i. 光电子谱线(photoelectron lines)；

ii. 俄歇电子谱线(Auger lines)；

iii. X射线卫星峰(X-ray satellites)；

iv. X射线鬼线(X-ray “ghosts”)；

v. 震激谱线(shake-up lines)；

vi. 多重分裂(multiplet splitting)；

vii. 能量损失谱线(energy loss lines)；

viii. 价电子线和价带(valence lines and bands)。

XPS主要通过测定内壳层电子能级谱的化学位移可以推知原子结合状态和电子分布状态。XPS可提供的信息有样品的组分、化学态、表面吸附、表面态、表面价电子结构、原子和分子的化学结构、化学键合情况等。X射线光电子能谱进行元素鉴别的依据是各种元素的光电子峰结合能具有特征性和唯一性，即具有元素的“指纹”特征；进行化学态识别的主要依据是化学位移和各种终态效应以及价带谱特征等。

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