1 “Point”数据处理
“Point”窗口显示的谱图有两种形式,一种是对应于某个位置的单张谱图,一种是所有谱图的平均值。在“Map”窗口右击后选择“Cursor”,出现“Pointer”对话框,“Style”选择“Cross”,此时鼠标左击“Map”窗口中任意位置,“Point”窗口显示该位置的谱图。若“Style”选择“Rect”,此时可以在“Map”窗口出现一个矩形,调整矩形的尺寸,“Point”窗口显示该矩形内所有谱图的平均谱图。见图2和3。
“Point”窗口的谱图可根据普通拉曼数据的处理方法处理,处理结束后点击“Map analysis”按钮,出现如图4对话框点击“Correct”按钮,软件在缓存中暂时保存对该谱图的处理,不点击“Correct”按钮“Point”窗口显示其它数据后再回到之前处理过的数据,处理结果不显示。
2.“Splm”数据处理
“Splm”窗口中的数据可以和“point”中的数据类似的方法处理,主要操作有基线校正和峰拟合。处理完成后同样需要点击“Map analysis”中“Correct”按钮
基线校正(见图5):选择左边“Addbaseline point”按钮,点击鼠标左键在“Splm”较为特征的谱线上添加基线,点击“Baseline correction”,出现“Baseline”对话框后点击“Sub”扣除基线,点击“Clear”去除基线,点击“Close”关闭窗口。也可尝试改变“Degree”数值,点击“Auto”进行自动扣基线。
峰拟合(见图6):点击“Add peak”图标,在谱线上感兴趣的峰位点击鼠标左键出现一个拟合峰,点击“Adjust peak”可调整拟合峰的高度和宽度,点击“Peak searching and fitting”按钮出现“Peaks”窗口,点击“Approx”和“Fit”进行峰位拟合。点击“Peaks”按钮出现拟合峰的位置(p)、强度(a)、半高宽(w)、高斯分量(g)和积分面积(Area)等参数信息,勾选这些参数后的“Map”会出现相应的成像图,见图7。
3.“Map”成像
在“Point”或“Splm”窗口点击红色箭头,右击选择“Red cursor”出现“Pointer”窗口,见图8,“Style”选择为“Double”。此时界面上的红线显示为双线,用鼠标左键拖拉两根线使得两线夹住感兴趣的峰,见图9。点击“Map Analysis”按钮,在此窗口中勾选“Red”中的“Use”和“Baseline”(Use为显示该峰的Map成像,Baseline为成像时所选谱峰为自动扣除基线的结果),此时“Map”窗口出现的图像即为该峰的强度分布图。分布图的颜色可以在“Map”窗口右击“image”进行选择(见图10),若颜色分布不显著,可右击“Format and scale”,将“Inten”中的“Auto”勾选,此时各区域的颜色差异就会变明显(见图11)。同理点击绿色箭头和蓝色箭头,可再进行两个峰的“Map”成像。在“Map Analysis”窗口勾选“Green/Blue”即产生绿色双线和蓝色双线所夹的谱峰强度之比的“Map”成像图。