该项目填补了业界关于测试薄膜材料相变温度的技术空白,此热分析仪颠覆了传统的材料热性能检测设备,该项目技术能同时测量相变温度和热膨胀系数这两个热力学参数,大大降低了测试成本,这在国内外尚属首创。 采用红外辐射加热样品,利用光信号检测,灵敏度较高,能测定膜厚低至1nm的薄膜的相变温度。非损伤性测量,可直接对薄膜样品进行测量,无需刮粉。 该系统能测量从室温至3000℃所有材料的相变温度,并可测量不同升温速率下的相变温度,若使用高精度红外加热炉,其最高升温速率可达3000℃/分钟,远高于现有测试手段。 该项目目前已申请两项中国发明专利如下: 1 名称:“一种热膨胀系数的测量方法及装置” 发明人:缪向水,童浩,程晓敏 (导师在前) 申请日期:2011/01/05 申请号:201110004414.8 2 名称:“一种相变温度测试系统” 发明人: 缪向水,童浩,程晓敏 (导师在前) 申请日期:2009/12/08 申请号:200910273102.X 公司老总王愿兵在长江商报中提到:熬出的“世界第一” http://www.changjiangtimes.com/2013/06/446309.html 中国功能材料网:世界首台光功率热分析仪光谷造http://www.chinafm.org.cn/news_view.asp?NewsID=946 光功率热分析仪QQ交流群:47468968 |