一个新的200千伏输电从JEOL电子显微镜提供高通量，大规模生产半导体和材料的样品的工艺和质量控制nanoanalysis。多功能JEOL JEM- 2800的高清晰度成像在透射电子显微镜，茎，和SE的模式;超灵敏的大角度能谱（EDS）等元素的映射;化学分析的电子能量损失谱（EELS）;临界尺寸分析;断层;和现场观察的样本。不使用传统的荧光屏上的电子列的所有新的TEM功能。

    JEM -2800的速度通过全自动功能，包括调整的重点，散光，对比度，亮度，晶带轴对齐，和高度的标本观察。分析模式之间切换是无缝的，和快速的数据采集样品间的周转时间缩短。操作导航系统和屏幕上的操作指南，JEM -2800的高吞吐量，为任何技术水平的用户友好的TEM。

    附加功能和JEM- 2800的主要规格包括一个肖特基场发射电子枪，高稳定的eucentric侧入测角阶段，100X150,000,000使用干的X，0.1 nm的透射电子显微镜的分辨率和0.20 nm的BF/ DF干的放大倍率范围决议。

JEM- 2800是JEOL的最新100-300千伏电信设备制造商除了全面的阵容和最近ARM200F原子分辨率的TEM。与大型立体角EDS今年夏天，美国第一家客户，全球半导体制造商，将采取新的JEM- 2800交付。

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JEM- 2800是JEOL的最新100-300千伏电信设备制造商除了全面的阵容和最近ARM200F原子分辨率的TEM。与大型立体角EDS今年夏天，美国第一家客户，全球半导体制造商，将采取新的JEM- 2800交付。