在TEM中，有两个地方用到dark current 这个概念。

第一是电子枪，特别是场发射的枪。当在两个金属电极之间加上高场，除正常电流外，阴极支撑的表面缺陷处也会产生不想要的电子束，称作dark current.显然，dark current是不好的东西，不仅影响有用的电子束，还有一定的产生电弧的风险。所以要尽可能的低。由于暗电流也是场发射效应，主要取决于表面的不规则（如粗糙度，灰尘等）以及功函数。因此可以通过一定的方法降低。

dark current第二个地方是指CCD camera。对于CCD 来说，最后被读出的像素通常要比先读出的像素强度要大。这是由于热运动造成了电荷积累。后读出的像素，在等待读出的过程中，热运动造成的电荷积累越多越多，因此即使没有光信号进入，也会产生强度信号。每个像素在等待读出的过程中由于热运动造成的电荷积累的速度被定义为dark current，所以，CCD使用时必须要冷却。

BEAM CURRENT meter： An unfortunate choice of nomenclature since it displays not the beam current but the sum of the beam current and the current in the feedback resistors in the HT generator. It normally reads ~101 μA at 200 kV with no beam current. With the beam on, the value should be between 106 and 111 μA.

在TEM中，有两个地方用到dark current 这个概念。

第一是电子枪，特别是场发射的枪。当在两个金属电极之间加上高场，除正常电流外，阴极支撑的表面缺陷处也会产生不想要的电子束，称作dark current.显然，dark current是不好的东西，不仅影响有用的电子束，还有一定的产生电弧的风险。所以要尽可能的低。由于暗电流也是场发射效应，主要取决于表面的不规则（如粗糙度，灰尘等）以及功函数。因此可以通过一定的方法降低。

dark current第二个地方是指CCD camera。对于CCD 来说，最后被读出的像素通常要比先读出的像素强度要大。这是由于热运动造成了电荷积累。后读出的像素，在等待读出的过程中，热运动造成的电荷积累越多越多，因此即使没有光信号进入，也会产生强度信号。每个像素在等待读出的过程中由于热运动造成的电荷积累的速度被定义为dark current，所以，CCD使用时必须要冷却。

BEAM CURRENT meter： An unfortunate choice of nomenclature since it displays not the beam current but the sum of the beam current and the current in the feedback resistors in the HT generator. It normally reads ~101 μA at 200 kV with no beam current. With the beam on, the value should be between 106 and 111 μA.