请问各位：我长出来的单晶用粉末XRD衍射仪扫出来的谱有意义么？？其衍射峰是否表示的是平行于样品平面存在的晶面？？

测单晶要么是用连续谱Ｘ射线，要么用旋转法。粉末ＸＲＤ不能测吧？

可能会出现两种情况，一种是没有峰，另一种，如果出现了，那应该是平行于表面的晶面。愚见，仅供参考

把单晶研磨到微米级再用粉末XRD衍射仪扫谱，出来的结果才有意义，其衍射峰包括所有衍射晶面，不仅仅是平行于样品平面存在的晶面。如果不研磨细，一方面可能有的晶面衍射信号可能收集不到，另一方面，更大的可能是存在各衍射峰的强度随取向变化的问题，更有甚者，如果晶粒粗大会影响测量角度准确性。