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如何做实验
如何做实验
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2011-12-26
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环境温度对电镜究竟有何种影响
JEM-2100F为例,其温度要求15-25度,波动小于1度/小时。先说为什么室温要设在15-25度:电子元件都有他们最佳的工作温度,太高太低都会影响他们的正常 ...
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semtem
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2011-12-26 18:40
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2011-12-26
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透射电镜NBD和CBD按钮用途
NBD是做纳米束电子衍射的 CBD是会聚束电子衍射,都有相应的合轴步骤。 alpha不一样。 普通TEM模式alpha 1-3 NBD模式 alpha 1 CBD模式 alpha 最大可到 ...
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semtem
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2011-12-26 18:38
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2011-12-22
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踩正晶带轴方法和步骤
1、最常用的方法是利用电子衍射,把衍射图调整得对称,带轴就比较正了。看到的对称性和你的晶体类型已经使用的衍射方式有关。 具体步骤:放大倍数到1 ...
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semtem
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2011-12-22 19:16
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2011-12-22
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JEOL和FEI的STEM球差矫正比较
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2011-12-22 19:15
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2011-12-21
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如何分析原子力显微镜的相位图
如题:如何分析原子力显微镜的相位图? 参考回答如下: 1.作为轻敲模式的一项重要的扩展技术,相位模式是通过检测驱动微悬臂探针振动的信号源的相位 ...
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2011-12-21 11:44
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2011-12-21
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AFM针的使用寿命
参考意见: 针的寿命不但跟针本身的材质有关,还与表面粗糙度有关,如果样品表面很粗糙很不规则而且很硬,那探针损坏的必定很快。针对不同的样品选择 ...
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2011-12-21 11:42
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2011-12-21
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原子力显微镜成像发虚的问题
原子力显微镜成像发虚的问题 问题: 扫描图像有时发虚,以前没有问题,最近才有。调试了好长时间,还是不行。 有时候半张图像清晰,半张发虚,参数调 ...
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2011-12-21 11:42
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2011-12-21
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原子力显微镜应对65nm以下测量领域的优势
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2011-12-21 11:41
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2011-12-21
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使用精工原子力显微镜做电流成像的一些问题
使用精工原子力显微镜做电流成像的一些问题 相关问题: 我这里有两台SPA400和环境SPA300HV.试过很多种探针,Au coated SI-DF3-A,SI-AF01-A; Pt coate ...
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2011-12-21 11:19
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2011-12-21
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原子力显微镜样品的要求
原子力显微镜样品的要求 相关问题: 样品是高分子聚合物与无机粒子的复合液,多少浓度适合做测试? 参考回答: 浓度尽量低,大约为nmol级,标准是 ...
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2011-12-21 11:19
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2011-12-20
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透射电镜原理和扫描电镜原理
透射电镜原理 目前,主流的透射电镜镜筒是电子枪室和由6~8 级成像透镜以及观察室等组成。阴极灯丝在灯丝加热电流作用下发射电子束,该电子束在阳 ...
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2011-12-20 18:25
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2011-12-17
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高温下原子力显微镜的成像问题
100度以上的AFM成像该注意哪些问题? 参考回答: 样品加热很对压电扫描器有一定的影响,如果是下扫描AFM的话(针尖扫描式称为上扫描,样品扫描式称 ...
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2011-12-17 17:59
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2011-12-17
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原子力显微镜中降低漂移、定位不准现象的技术
原子力显微镜中降低漂移、定位不准现象的技术 问题: 在做AFM的时候,漂移与定位不准确都是目前比较让人头疼的事,有方法或技术可以解决或是说能降低 ...
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2011-12-17 17:57
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2011-12-17
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原子力显微镜在做高温时粘接样品的双面胶问题
当温度超过100度时,普通的双面胶就会失去原有的作用,如果需要测试温度超多100度时的样品,则选择什么样的双面胶粘结样品,才不至于样品在测试过程中 ...
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2011-12-17 17:57
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2011-12-17
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对于不同物质原子力显微镜模式的选择
对于软物质和硬物质应该选用什么样的模式测试最好啊? 粗糙的表面用哪一种模式好啊? 参考回答: 一般而言: 软样品适合于用Tapping模式扫描,因 ...
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2011-12-17 17:56
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2011-12-17
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原子力显微镜AFM
STM 仪器能够提供人们前所未有的高空间分辨率。但是,STM 的工作原理要求样品必须是电的良导体,所以它只能用于研究导体和半导体材料。而大部分的材料 ...
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2011-12-17 17:55
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2011-12-15
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SEM常用的背散射电子检测器种类和比较
背散射检测器分两种,一种是固体检测器,SOLIDSTATE,利用固体硅片作SENSOR,加上前置放大器构成,一种是闪烁体加光导管加光电倍增管构成。 另外检测 ...
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2011-12-15 19:19
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2011-12-15
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一种有效的晶体材料微观分析方法——EBSD
大约在15年前出现了背散射电子衍射(EBSD,Electron Backscattered Diffraction)分析技术,而观察到背散射电子衍射现象则更早。 当时这种技术主要应用 ...
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2011-12-15 19:15
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2011-12-14
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普通金相处理(抛光,腐蚀以后)以后能否作EBSD
有的材料是可以的,钢材样品如果不是大变形量的或是比较充分退火的试样,精致的机械抛光也能做EBSD的。 一般最好用电解抛光,非常有效的去除表面应力 ...
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2011-12-14 18:33
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2011-12-14
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EDAX公司能谱与EBSD一体化系统——Pegasus主要指标和特点
设备用途 用在扫描电镜(SEM)上,对材料的微区成分及元素的分布状况进行定性和定量分析。通过对背散射电子衍射花样(EBSP)的测量和标定,分析研究晶体 ...
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2011-12-14 18:32
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2011-12-14
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制备EBSD样品的经验
我电解抛光的条件是:硫酸+甲醇 1:4, 电压 18-20V,电流0.6-0.8mA, 时间5秒。电解抛光有两个目的,去除残余应力+降低表面粗糙度,为达到这两个目的 ...
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2011-12-14 18:32
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2011-12-12
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EDS-mapping与EELS-mapping的区别
eels mapping的收集时间还是要短得多,一般在半分钟以内,取决于样品厚度以及所包含的元素。 EDS mapping时间就长的多了,尤其是如果想得到比较确定 ...
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2011-12-12 19:16
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2011-12-12
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能谱分析不定性半定量的原因
能谱分析不是很确切。一般的能谱对于重元素分析如果有标样的话,还是很准确的。但是轻元素由于收到本底吸收等环境因素的影响大,很难做的比较准确。 ...
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2011-12-12 19:15
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2011-12-12
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利用电镜加能谱对样本做自动化定性定量分析
多年来能谱只是电镜的附属品,这个产品调过来,电镜反倒成了能谱的附属品。 图中的这个产品已经存在了20年,还在不断更新中。利用电镜加能谱对样本做 ...
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2011-12-12 19:14
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2011-12-12
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线扫不能用来看形貌
线扫是不可能用来看形貌的,因为粗糙表面激发出来的X射线能量,不是被遮挡、反射、就是被吸收和背散射。 经验老道的操作员会将样本尽量打磨抛光,然 ...
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2011-12-12 19:12
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2011-12-12
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能谱仪校正calibrate方法
要有一个标样,一般用Co,把电镜状态调整到最佳工作距离(就是EDS最佳接受位置),使计数率在1500以上,然后点击液氮图标,找到calibrate选项,选择fu ...
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2011-12-12 19:11
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2011-12-10
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液氮制冷Si(Li)晶体能谱仪和电制冷能谱仪比较
总结了一下透射电镜目前的液氮制冷Si(Li)晶体的能谱仪存在的不足,如下: 1.需要消耗液氮,每周两次,透射的能谱位置较高,添加液氮非常不方便。 2 ...
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2011-12-10 09:50
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2011-12-10
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能谱杂峰来源分析
C、O大概是污染的有机物造成的。 Ca和S或许是你用了蒸馏水,有些水里面有CaSO4的。 Si据说可能是EDS探头晶体里造成的。 能谱只出现Cu,而且信号较 ...
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2011-12-10 09:49
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2011-12-10
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EDS的简单做法
首先电镜状态调好,找到你需要做EDS的位置,选择合适束斑尺寸和强度,插入EDS探头开始收集谱峰,如果是在STEM下就更方便了。 在TEM模式下将要进行EDS ...
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2011-12-10 09:48
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2011-12-8
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EDAX genesis型能谱仪加偏压操作
如果已经加液氮的话,是开计算机就加偏压的。 这加偏压不是仪器使用者的操作,是打开能谱电脑就自动加的,在能谱后面(铭牌那里)有个发光二极管,如 ...
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